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        測量顯微鏡

        詳細分類
        型號:6w

          6W阿貝比較儀是基于阿貝原理而設計制造的高精度長度計量儀器。該儀器主要用于測量二線之間的距離及平面上兩點之間的距離:如對200mm以下短標尺的檢定;對光譜圓形及光學儀器中的分劃板的精密測量等等。并可作為攝譜儀的成套附件。

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        阿貝比較儀 6w

        型號:107JPC

          107JPC測量顯微鏡小型、多用途的精密測量顯微鏡,結構緊湊、成像清晰、精度高,可作二維坐標的精密測量,及Z向的輔助測量。儀器帶有可調光的落射、透射和輔助照明裝置及多種濾色鏡,給各種復雜形狀的測量工作帶來很大方便。

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        精密測量顯微鏡 107JPC

        型號:107JA

          107JA測量顯微鏡是一種小型的能進行二維測量的計量儀器,儀器主要采用透、反射照明方式,通過觀察和數顯系統對精密的幾何量(長度、角度)進行觀察、分析、測量。特別使用于錄像機磁鼓、大規模集成電路線寬、小型零件(如鐘表零件)及其他精密幾何參數的數量。

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        精密測量顯微鏡 107JA

        型號:15JE

          1.直角坐標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔外圓直徑等等。2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。

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        數顯測量顯微鏡 15JE

        型號:15J

          直角座標中測定長度,例如:測定孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑等等。轉動度盤測定角度,例如:對刻度盤、樣板、量規、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。

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        測量顯微鏡 15J

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