1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據近代光學的研究結果,光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現象是光的波動性的特性。
PG150-PC激光平面干涉儀
一.儀器特點
主要用于平面類光學元件檢定和校準光學平晶(包括玻璃、金屬、陶瓷等),配備高精度的成像系統和圖像采集系統,精密平面標準鏡等一系列高精技術,通過優化光學系統和機械系統結構,可實現高精密平面光學元件的測量。
二.工作條件
1. 適用于在電源220V(10%)/50Hz、氣溫攝氏5℃~30℃和相對濕度低于75%的環境條
件下運行。
2. 建議安放在防震工作臺上,環境清潔。
三.技術規格
1. 測量方式:菲索干涉原理
2. 有效口徑:150mm
3. 標準鏡材料:石英 康寧7980
4. 連續變倍:固定倍率
5. 顯示方式:電腦軟件或獨立顯示器
6. 平面標準鏡:精度PV ≤λ/20
7. 光 源:半導體激光 635nm
8. 儀器尺寸:40cm x 40cm x 90cm
9. 儀器重量:75kg 電 源:AC100-240V 50/60Hz
10. 標配含(專用干涉儀軟件)
四. 標準配置
1、激光平面干涉儀/1臺
2、專用干涉軟件 /1套
3、品牌計算機/1臺
4、產品合格證、保修卡及說明書/1份
百度統計: