■  產品簡介

     CR-100白光干涉檢測系統（白光干涉儀）可以非接觸檢測表面微結構形貌，以及相關的截面以及粗糙度參數。精度高，不會對被測物造成損壞。主要應用于高端制造行業，例如：光電子材料與器件、材料科學表面分析，MEMS微器件、LED芯片，光學測量、光學加工、精密機械加工，高等學校光學技術及物理光學實驗等。

■  產品特點

1.非接觸檢測                         

2.新型白光干涉物鏡，工作距離可達17.7mm  

3.可測試最低反射率0.5%的樣品

4.高分辨率彩色CCD系統

■  技術規格

1、光學設計：無限遠相移白光干涉系統

2、觀察方式：連接電腦，視頻顯示

3、光學參數

4、工作臺：圓盤360°旋轉，直徑150mm，帶傾斜調整功能；X軸行程：76mm，Y軸行程：50mm

5、調焦：行程50mm，手動粗微調，微調格值0.002mm

6、圖像采集：圖像傳感器: 1/2.5"彩色300萬CMOS；分辨率：2048 x 1536；

   像素點尺寸：2.2μmx2.2um；幀率：8fps全分辨率；數據接口:USB3.0.

7、光源：LED白光光源，亮度手動可調，使用壽命不低于10000小時。

   中心波長：580nm

8、電   源：AC100 --240 V 50-60Hz

9、儀器重量：20kg

■ 儀器成套性

1、白光干涉儀  一臺

2、白光干涉物鏡10X  一只

3、多功能工作臺  一套

4、專用數據采集系統  一套

■ 儀器成套性

1、白光干涉儀  一臺

2、白光干涉物鏡10X  一只

3、方、園工作臺  一套

4、專用數據采集系統  一套

5、品牌計算機  一套

6、產品合格證、保修卡及使用說明書 一份